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Influence of Gate Geometry in Integrated MOS Varactors on Accumulation Mode for RF
Title: Influence of Gate Geometry in Integrated MOS Varactors on Accumulation Mode for RF Authors: E. Amselem, B. Gonzalez, J. Garcia, I. Aldea, M. Marrero, A.G. Iturri, J. del Pino, S.L. Khemchandani, and A. Hernández Conference name: VI Conferencia de … Sigue leyendo
Publicado en 2007, Conference Papers, jpino, sunil
Etiquetado accumulation mode, gate geometry, mos varactors
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