Archivo mensual: octubre 2000

Análisis de la tecnología SiGe de AMS

Title: Análisis de la tecnología SiGe de AMS Company: Incide Canary S.L.

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Optimization of the δ-Doped Layer in P-HFETs at Medium/High Temperatures

Title: Optimization of the δ-Doped Layer in P-HFETs at Medium/High Temperatures Authors: B. González, A. Hernández, J. García, J. del Pino, J. R. Sendra and A Nuñez Journal name: Semiconductors Science and Technology, vol. 15, pp. 19-23, Abstract: The use … Sigue leyendo

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Oximetría in Vivo Mediante Espectroscopia Óptica

Title: Oximetría in Vivo Mediante Espectroscopia Óptica Authors: S. M. López Silva, J. R. Sendra, J. del Pino, J. García, B. González y A. Hernández. Conference name: Jornadas de Ingeniería Médica en Canarias (Nacional), Las Palmas de Gran Canaria

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Fotopletismografía y Oximetría de Pulso Mediante Espectroscopia VIS-NIR

Title: Fotopletismografía y Oximetría de Pulso Mediante Espectroscopia VIS-NIR Authors: S. M. López Silva, J. R. Sendra, J. del Pino, J. García, B. González y A. Hernández. Conference name: Jornadas de Ingeniería Médica en Canarias

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